Brief: Khám phá Máy dò khuyết tật hạt từ tính dòng HCDX-Y, được thiết kế để phát hiện chính xác các khuyết tật bề mặt và dưới bề mặt trong môi trường khắc nghiệt. Lý tưởng cho việc kiểm tra mối hàn và thử nghiệm từ xa, công cụ bền bỉ này cung cấp các tùy chọn từ hóa AC/DC, cấu trúc chống hóa chất và bộ pin di động để sử dụng hiệu quả tại hiện trường.
Related Product Features:
Kết cấu kín, bền bỉ với khả năng kháng hóa chất và mài mòn cho các ứng dụng khắc nghiệt.
Các tùy chọn vận hành AC và DC cho cả việc phát hiện khuyết tật trên bề mặt và dưới bề mặt.
Di động với bộ pin sạc (MT-500, MT-600, MT-610) để sử dụng tại hiện trường.
Khả năng điều chỉnh từ hóa với các bộ điều khiển trạng thái rắn để kiểm tra chính xác.
Vượt quá các thông số kỹ thuật nâng của ASTM với độ nhạy cao để phát hiện khuyết tật.
Chip vi mạch tích hợp ổn định điện áp đầu ra để có hiệu suất ổn định.
Bao gồm các chức năng báo động âm thanh và ánh sáng để theo dõi pin.
Tương thích với nhiều vật liệu sắt từ khác nhau, lý tưởng cho mối hàn và bình chịu áp lực.
Câu hỏi thường gặp:
Loạt HCDX-Y có thể phát hiện những loại khuyết tật nào?
Dòng HCDX-Y có thể phát hiện các khuyết tật trên bề mặt và dưới bề mặt như vết nứt do mỏi, vết nứt co ngót, mối nối, tạp chất, chồng mí, xỉ hàn và vết nứt do mài.
Dòng HCDX-Y có phù hợp để sử dụng ngoài hiện trường không?
Đúng vậy, dòng HCDX-Y được thiết kế để sử dụng tại hiện trường với bộ pin di động (MT-500, MT-600, MT-610), dây cáp 12 foot chắc chắn và chân có khớp để điều chỉnh theo hình dạng bất kỳ của bộ phận.
Dòng HCDX-Y tuân thủ các tiêu chuẩn nào?
Dòng HCDX-Y tuân thủ các tiêu chuẩn JB/T7411-2012, ASME BPVC, ASTM E709, ASTM E1444 và ASTM E3024 cho các thiết bị phát hiện khuyết tật bằng phương pháp từ trễ.